English
JF-4 serijos stiklo paviršiaus įtempio matuoklis, paveikslėlis
  • JF-4 serijos stiklo paviršiaus įtempio matuoklis

JF-4 serijos stiklo paviršiaus įtempio matuoklis

Trumpas aprašymas:

JF-4 serijos stiklo paviršiaus įtempio matuoklis sukurtas automatiškai matuoti chemiškai grūdinto stiklo ir termiškai grūdinto stiklo paviršiaus įtempį. Jis aprūpintas kompiuteriu (PC), kuris sumažina kiekvieno operatoriaus matavimo paklaidas. Be to, sudėtingi skaičiavimai, reikalingi paviršiaus gniuždymo įtempiui, sluoksnio gyliui ir centriniam įtempimo įtempiui grūdintam stiklui apskaičiuoti, greitai išsprendžiami naudojant optinio bangolaidžio efektą. Duomenų saugojimas kompiuterio atmintyje tiesiogiai leidžia lengvai kontroliuoti kokybę.


Produkto informacija

Produkto žymės

Paraiška

Jis plačiai naudojamas telefonų stiklo plokščių, LCD ekranų ir kitų chemiškai grūdintų stiklo plokščių kokybės kontrolei. Tačiau matuoklis negali būti naudojamas chemiškai grūdintam stiklui, pagamintam jonų mainų (Li+ stikle) ir (Na+ druskos vonelėje) būdu, bei chemiškai grūdintam fotochrominiam stiklui.

Jį galima pritaikyti pagal reikalavimus. Naujai išleista programinė įranga su dvigubo jonų mainų stiklo funkcijomis, rodančia įtempių pasiskirstymą, automatiškai tęsiančia matavimą, automatiškai tęsiančia įrašymą CSV faile ir eksportuojančia ataskaitas.

Programinė įranga

Programinė įranga turi veikti kartu su kompiuteryje naudojamu stiklo paviršiaus įtempio matuokliu. Naudojant šią programinę įrangą, kompiuteryje galima atlikti vienkartinius ir nuolatinius stiklo paviršiaus įtempio matavimus, patikrinti įtempių pasiskirstymą (tik chemiškai grūdintam stiklui), įrašyti ir spausdinti ataskaitas.

Parametrus ir kitas funkcijas galima nustatyti vienu metu. Kompiuterių monitorių skiriamoji geba turi būti 1280 * 1024 pikselių arba didesnė.

Specifikacija

Tikslumas: 20 MPa

Diapazonas: 1000 MPa / 1500 MPa

Gylis: 5~50µm/10~100µm/10~200µm

Operacinė sistema: „Windows 7“ 32 bitų / „Windows“ 64 bitų

Šviesos šaltinio bangos ilgis: 355 nm / 595 nm / 790 nm ± 10 nm

JF-4 paviršiaus įtempio matuoklis (įranga)
JF-4 paviršiaus įtempio matuoklis (įranga) 2 (1)
JF-4 paviršiaus įtempio matuoklis (įranga) 2 (2)
  • Ankstesnis:
  • Toliau:
    • Parašykite savo žinutę čia ir išsiųskite ją mums

    Produkto rekomendacija

    Paspauskite „Enter“, kad ieškotumėte, arba „ESC“, kad uždarytumėte